第1章 概論
1.1 測(cè)控系統(tǒng)的基本組成
1.2 現(xiàn)代測(cè)控系統(tǒng)的特點(diǎn)
1.3 可靠性的基本概念
1.4 測(cè)控系統(tǒng)可靠性及測(cè)度
1.4.1 可靠性與可靠度
1.4.2 測(cè)控系統(tǒng)可靠性
1.4.3 簡(jiǎn)化可靠性參數(shù)
1.5 測(cè)控系統(tǒng)可靠性技術(shù)與方法
1.5.1 避錯(cuò)技術(shù)
1.5.2 容錯(cuò)技術(shù)
1.5.3 可測(cè)性設(shè)計(jì)技術(shù)
1.5.4 失敗安全設(shè)計(jì)技術(shù)
1.6 本書內(nèi)容安排
習(xí)題

第2章 可靠性理論基礎(chǔ)
2.1 可靠度函數(shù)
2.1.1 可靠度
2.1.2 失效概率密度和累積失效概率
2.1.3 失效率
2.2 常用的失效密度函數(shù)
2.2.1 二項(xiàng)分布
2.2.2 泊松（Poisson）分布
2.2.3 指數(shù)分布
2.2.4 正態(tài)分布
2.2.5 截尾正態(tài)分布
2.2.6 對(duì)數(shù)正態(tài)分布
2.2.7 威布爾（Weibull）分布
2.3 多態(tài)關(guān)聯(lián)系統(tǒng)與多元布爾邏輯
2.3.1 多狀態(tài)系統(tǒng)
2.3.2 多狀態(tài)關(guān)聯(lián)系統(tǒng)
2.3.3 布爾邏輯
2.3.4 多元布爾邏輯
習(xí)題

第3章 系統(tǒng)可靠性分析方法
3.1 系統(tǒng)的組成及功能邏輯框圖
3.2 基于可靠性框圖的分析法
3.2.1 系統(tǒng)可靠性框圖及其建立
3.2.2 真值表法
3.2.3 全概率公式法
3.2.4 最小路集法和最小割集法
3.3 基于馬爾柯夫模型的分析法
3.3.1 狀態(tài)圖及其構(gòu)造
3.3.2 狀態(tài)圖的簡(jiǎn)化
3.3.3 狀態(tài)方程及其解算方法
3.4 基于故障樹的分析法
3.4.1 故障樹分析法概述
3.4.2 故障樹的建造
3.4.3 故障樹的數(shù)學(xué)描述
3.4.4 故障樹的定性分析
3.4.5 故障樹的定量計(jì)算
3.4.6 故障樹分析法的評(píng)價(jià)
3.5 簡(jiǎn)單系統(tǒng)可靠性分析
3.5.1 串聯(lián)系統(tǒng)
3.5.2 并聯(lián)系統(tǒng)
3.5.3 串并聯(lián)系統(tǒng)
3.5.4 并串聯(lián)系統(tǒng)
3.6 表決系統(tǒng)可靠性分析
3.6.1 2/3（G）系統(tǒng)
3.6.2 m/n（G）系統(tǒng)
習(xí)題

第4章 測(cè)控系統(tǒng)硬件可靠性
4.1 電子元器件可靠性
4.1.1 電子元器件的失效及分析
4.1.2 系統(tǒng)設(shè)計(jì)中電子元器件可靠性措施
4.1.3 常用電子元器件的特點(diǎn)及選擇
4.2 測(cè)控電路可靠性
4.2.1 測(cè)控電路的組成
4.2.2 測(cè)控系統(tǒng)對(duì)測(cè)控電路的基本要求
4.2.3 測(cè)控電路可靠性措施
習(xí)題

第5章 測(cè)控系統(tǒng)軟件可靠性
第6章 測(cè)控系統(tǒng)通信可靠性
第7章 測(cè)控系統(tǒng)可信設(shè)計(jì)
第8章 測(cè)控系統(tǒng)可靠性研究進(jìn)展
參考文獻(xiàn)