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專利視角下的半導(dǎo)體量檢測關(guān)鍵技術(shù)

專利視角下的半導(dǎo)體量檢測關(guān)鍵技術(shù)

定  價(jià):99 元

        

  • 作者:國家知識(shí)產(chǎn)權(quán)局專利局專利審查協(xié)作江蘇中心
  • 出版時(shí)間:2024/9/30
  • ISBN:9787513094962
  • 出 版 社:知識(shí)產(chǎn)權(quán)出版社
  • 中圖法分類:G306 
  • 頁碼:228
  • 紙張:
  • 版次:1
  • 開本:16開
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本書創(chuàng)新性地開展“雙線聯(lián)動(dòng)”和“雙維定位”特色分析,重點(diǎn)研究了半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)關(guān)鍵核心技術(shù)的專利布局脈絡(luò)和重點(diǎn)申請人布局情況,研究內(nèi)容緊扣當(dāng)下產(chǎn)業(yè)急需和未來發(fā)展趨勢,不僅可以為現(xiàn)有科研工作提供有力的支撐,而且為未來的科研工作提供了有效的科研情報(bào)信息。本書是了解該行業(yè)技術(shù)發(fā)展現(xiàn)狀并預(yù)測未來走向、幫助企業(yè)做好專利預(yù)警的必備工具書。
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