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截面相關(guān)下的變結(jié)構(gòu)面板協(xié)整檢驗研究 
定 價：59 元
9 7 7 8 2 7 4 5 7 2 5 2 1 讀者對象:本書適用于經(jīng)濟學(xué)研究人員
本書在全面梳理面板協(xié)整檢驗方法的基礎(chǔ)上，對截面相關(guān)下的變結(jié)構(gòu)面板協(xié)整檢驗進行深入研究。首先，本書將WE法進行拓展，在推導(dǎo)出檢驗的漸近分布后，通過蒙特卡洛模擬考察其小樣本性質(zhì)，并將該方法應(yīng)用于Feldstein-Horioka之謎在中國省際的再檢驗。其次，雖然基于WE法的截面相關(guān)下的變結(jié)構(gòu)面板協(xié)整檢驗方法較為簡單，但仍基于一個嚴(yán)格的假定，因此本書引入了BC檢驗并對其進行擴展，提出了基于BC法的截面相關(guān)下的變結(jié)構(gòu)面板協(xié)整檢驗，進而推導(dǎo)出其漸近性質(zhì)，考察其有限樣本性質(zhì)，并將其應(yīng)用到二氧化碳排放與經(jīng)濟增長關(guān)系的實證研究中。
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