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SystemVerilog驗(yàn)證:測(cè)試平臺(tái)編寫指南(原書第三版)

SystemVerilog驗(yàn)證:測(cè)試平臺(tái)編寫指南(原書第三版)

定  價(jià):98 元

        

  • 作者:(美)克里斯·斯皮爾等著;張春譯
  • 出版時(shí)間:2022/11/1
  • ISBN:9787030727466
  • 出 版 社:科學(xué)出版社
  • 中圖法分類:TP312 
  • 頁碼:432
  • 紙張:
  • 版次:01
  • 開本:16
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讀者對(duì)象:本書可供工程技術(shù)人員,電子科學(xué)與技術(shù)、微電子、電子信息工程、通信工程專業(yè)師生參考閱讀。

本書講解了System Verilog Testbench強(qiáng)大的驗(yàn)證功能,清楚地解釋了面向?qū)ο缶幊、約束隨機(jī)測(cè)試和功能覆蓋的概念。本書涵蓋System Verilog所有驗(yàn)證結(jié)構(gòu),如類、程序塊、隨機(jī)化和功能覆蓋等,并通過超過500個(gè)代碼示例和詳細(xì)解釋,說明了學(xué)習(xí)多態(tài)性、回調(diào)和工廠模式等概念的內(nèi)部工作原理。此外,本書提供了數(shù)百條指導(dǎo)原則,為全職驗(yàn)證工程師和學(xué)習(xí)這一技能的讀者提供幫助,讓讀者可以更高效地使用這種語言,并解釋了常見的編碼錯(cuò)誤,以便讀者可以避免這些陷阱。

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