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顆粒表征的光學技術(shù)及應(yīng)用

顆粒表征的光學技術(shù)及應(yīng)用

定  價:168 元

        

  • 作者:許人良 著
  • 出版時間:2022/8/1
  • ISBN:9787122412690
  • 出 版 社:化學工業(yè)出版社
  • 中圖法分類:O572.21 
  • 頁碼:412
  • 紙張:
  • 版次:01
  • 開本:16開精
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讀者對象:本書適合于顆粒表征和光學領(lǐng)域的科研人員、高校教師和學生、企業(yè)相關(guān)技術(shù)人員閱讀。

本書從對顆粒體系與顆粒表征的一般知識介紹出發(fā),通過對光散射理論的實用性討論,系統(tǒng)總結(jié)了顆粒測量的基本原理和各種表征方法,如光散射技術(shù)和光學計數(shù)法、激光粒度法、光學圖像分析法、顆粒跟蹤分析法、動態(tài)光散射法和電泳光散射法,涵蓋了最新的技術(shù)發(fā)展以及市場上最新的儀器產(chǎn)品,對每種技術(shù)相關(guān)的儀器構(gòu)造與使用、數(shù)據(jù)采集與結(jié)果分析進行了詳細說明。關(guān)于顆粒表征的標準化也有專門的介紹。
本書適合于顆粒表征和光學領(lǐng)域的科研人員、高校教師和學生、企業(yè)相關(guān)技術(shù)人員閱讀。
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