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電離層垂直探測(cè)電離圖度量手冊(cè)

 電離層垂直探測(cè)電離圖度量手冊(cè)

定  價(jià):39 元

        

  • 作者:何紹紅 等 編著;趙正予、趙振維 主審
  • 出版時(shí)間:2021/9/1
  • ISBN:9787307223684
  • 出 版 社:武漢大學(xué)出版社
  • 中圖法分類:P352.7 
  • 頁(yè)碼:
  • 紙張:膠版紙
  • 版次:
  • 開(kāi)本:16開(kāi)
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本手冊(cè)共三章。章為電離層基礎(chǔ)知識(shí),主要對(duì)電離層及其變化特性、電離層垂直探測(cè)與電離圖等作了簡(jiǎn)要介紹。第二章為電離層參數(shù)的度量精度規(guī)則,對(duì)電離層14個(gè)參數(shù)、限量符號(hào)與說(shuō)明符號(hào)作了解釋說(shuō)明并給出了這些參數(shù)度量的詳細(xì)精度規(guī)則。第三章為電離圖度量說(shuō)明及實(shí)例解釋,這是本手冊(cè)的核心篇,分別按E層、Es層、F1層、F2層和其它電離圖情況的順序?qū)Χ攘糠椒ㄟM(jìn)行了詳細(xì)說(shuō)明,包括各層的度量參數(shù)定義和度量規(guī)則說(shuō)明,以及對(duì)各層不同描跡情況進(jìn)行分類定義并給出了對(duì)應(yīng)的觀測(cè)實(shí)例的度量解釋;特別是對(duì)特殊電離圖的度量方法進(jìn)行了更多的舉例和更加詳細(xì)的解釋和說(shuō)明。

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