第1章 緒 論
1.1 故障、診斷與測試性的基本概念
1.1.1 故障及其后果
1.1.2 故障診斷
1.1.3 測試性和機(jī)內(nèi)測試
1.1.4 綜合診斷
1.2 測試性及診斷技術(shù)的發(fā)展
1.2.1 由外部測試到機(jī)內(nèi)測試
1.2.2 測試性成為一門獨(dú)立的學(xué)科
1.2.3 綜合診斷、人工智能及cAD的應(yīng)用
1.2.4 國內(nèi)測試性發(fā)展現(xiàn)狀
1.3 測試性／BIT對系統(tǒng)的影響
1.3.1 對維修性的影響
1.3.2 對可靠性的影響
1.3.3 對可用性和戰(zhàn)備完好性的影響
1.3.4 對壽命周期費(fèi)用的影響
1.3.5 測試性／BIT影響分析實(shí)例
1.4 常用測試性與診斷術(shù)語
習(xí) 題

第2章 測試性和診斷參數(shù)
2.1 概述
2.2 參數(shù)定義及說明
2.2.1 故障檢測率
2.2.2 關(guān)鍵故障檢測率
2.2.3 故障隔離率
2.2.4 虛警率
2.2.5 故障檢測時(shí)間
2.2.6 故障隔離時(shí)間
2.2.7 系統(tǒng)的故障檢測率和隔離率
2.2.8 不能復(fù)現(xiàn)率
2.2.9 臺檢可工作率
2.2.10 重測合格率
2.2.11 誤拆率
2.2.12 BIT／ETE可靠性
2.2.13 BIT／ETE維修性
2.2.14 BIT／ETE平均有效運(yùn)行時(shí)間
2.2.15 虛警與(2ND及RTOK的關(guān)系
習(xí)題

第3章 測試性設(shè)計(jì)與管理工作概述
3.1 測試性工作項(xiàng)目及說明
3.1.1 測試性工作項(xiàng)目
3.1.2 測試性工作項(xiàng)目說明
3.1.3 測試性與其他專業(yè)工程的接口
3.2 系統(tǒng)各研制階段的測試性工作
3.2.1 要求和指標(biāo)論證階段
3.2.2 方案論證和確認(rèn)階段
3.2.3 工程研制階段
3.2.4 生產(chǎn)階段和使用階段
3.3 測試性設(shè)計(jì)的目標(biāo)和內(nèi)容
3.3.1 設(shè)計(jì)目標(biāo)
3.3.2 設(shè)計(jì)內(nèi)容
3.4 測試性設(shè)計(jì)工作流程
3.4.1 各研制階段測試性工作流程
3.4.2 與系統(tǒng)功能和特性設(shè)計(jì)并行的測試性設(shè)計(jì)流程
3.4.3 多級測試性設(shè)計(jì)流程
3.4.4 UUT測試性與診斷設(shè)計(jì)流程
3.5 測試性設(shè)計(jì)工作的評價(jià)與度量
3.5.1 測試性設(shè)計(jì)分析報(bào)告
3.5.2 測試性與診斷有效性評價(jià)
3.5.3 產(chǎn)品對使用要求的符合性評價(jià)
習(xí) 題

第4章 測試性與診斷要求
4.1 概述
4.2 確定測試性與診斷要求依據(jù)分析
4.2.1 任務(wù)要求分析
4.2.2 系統(tǒng)構(gòu)成特性分析
4.2.3 使用和保障要求分析
4.2.4 可利用新技術(shù)分析
4.3 測試性與診斷要求的內(nèi)容
4.3.1 嵌入式診斷要求
4.3.2 外部診斷要求
4.3.3 測試性與診斷定性要求
4.3.4 測試性與診斷定量要求
4.4 系統(tǒng)與產(chǎn)品的測試性要求
4.4.1 系統(tǒng)測試性要求
4.4.2 產(chǎn)品測試性要求
4.5 確定測試性指標(biāo)的程序和方法
4.5.1 確定測試性要求的程序
4.5.2 測試性參數(shù)的選擇
4.5.3 測試性與可靠性、維修性之間的權(quán)衡分析
4.5.4 用類比法確定測試性指標(biāo)
4.5.5 初定指標(biāo)的分析檢驗(yàn)
4.6 診斷指示正確性和BIT影響分析
4.6.1 BIT對可靠性影響分析
4.6.2 BIT對維修性影響分析
4.6.3 診斷指示正確性分析
4.7 測試性／診斷規(guī)范示例
4.7.1 初步系統(tǒng)測試性規(guī)范
4.7.2 系統(tǒng)測試性規(guī)范
4.7.3 CI測試性研制規(guī)范
習(xí) 題

第5章 故障診斷方案
5.1 診斷方案的制定程序
5.2 候選診斷方案
5.2.1 確定診斷方案的依據(jù)
5.2.2 診斷方案組成要素
5.2.3 候選診斷方案的確定
5.3 最佳診斷方案的選擇
5.4 權(quán)衡分析
5.4.1 定性權(quán)衡分析
5.4.2 定量權(quán)衡分析
5.5 費(fèi)用分析
5.5.1 故障診斷子系統(tǒng)費(fèi)用模型
5.5.2 BIT壽命周期費(fèi)用增量模型
5.5.3 簡單費(fèi)用分析舉例
習(xí) 題

第6章 測試性與診斷要求分配
6.1 概述
6.1.1 測試性分配的指標(biāo)
6.1.2 進(jìn)行測試性分配工作的時(shí)間
6.1.3 測試性分配工作的輸入和輸出
6.1.4 測試性分配的模型和要求
6.2 等值分配法和經(jīng)驗(yàn)分配法
6.2.1 等值分配法
6.2.2 經(jīng)驗(yàn)分配法
6.3 按系統(tǒng)組成單元的故障率分配法
6.4 加權(quán)分配法
6.5 綜合加權(quán)分配法
6.5.1 測試性分配模型和工作程序
6.5.2 綜合主要影響因素的加權(quán)分配方法
6.5.3 只考慮復(fù)雜度時(shí)的分配方法
6.5.4 只考慮重要度時(shí)的分配方法
6.6 有部分老產(chǎn)品時(shí)的分配方法
6.7 優(yōu)化分配方法
6.7.1 優(yōu)化分配的數(shù)學(xué)模型
6.7.2 解法介紹
6.7.3 算法及步驟
6.7.4 目標(biāo)函數(shù)和約束函數(shù)的選擇
6.7.5 應(yīng)用舉例
習(xí)題

第7章 固有測試性設(shè)計(jì)與評價(jià)
7.1 固有測試性設(shè)計(jì)
7.1.1 劃 分
7.1.2 功能和結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)
7.1.3 初始化
7.1.4 測試控制
7.1.5 測試觀測
7.1.6 元器件選擇
7.1.7 其他
7.2 測試性設(shè)計(jì)準(zhǔn)則
7.2.1 電子功能結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)
7.2.2 電子功能劃分
7.2.3 測試控制
……

第8章 測試點(diǎn)與診斷策略
第9章 測試性／BIT設(shè)計(jì)技術(shù)
第10章 BIT虛警問題及降低虛警率方法
第11章 系統(tǒng)測試性與診斷的外部接口
第12章 測試性預(yù)計(jì)
第13章 測試性驗(yàn)證與評價(jià)
附錄
常用英文縮略語
參考文獻(xiàn)