本書系統(tǒng)介紹了紅外與太赫茲探測(cè)器件中的電子信息理論、物理內(nèi)涵、光學(xué)知識(shí),以及器件制備與應(yīng)用中所涉及的材料、結(jié)構(gòu)和制冷系統(tǒng)等多方面的內(nèi)容,對(duì)紅外與太赫茲器件制備、應(yīng)用研發(fā)以及實(shí)際工程使用人員具有很高的參考價(jià)值。全書分為5個(gè)部分,包括紅外與太赫茲探測(cè)基礎(chǔ)、紅外熱探測(cè)器、紅外光子探測(cè)器、紅外焦平面陣列以及太赫茲探測(cè)器與焦平面
本手冊(cè)的主要內(nèi)容包括核輻射探測(cè)基礎(chǔ)知識(shí)、核電子學(xué)系統(tǒng)組成與原理、核輻射監(jiān)測(cè)設(shè)備使用與維修等三部分內(nèi)容,既有核輻射探測(cè)和核電子學(xué)的基礎(chǔ)理論知識(shí),又有常見(jiàn)輻射監(jiān)測(cè)設(shè)備的使用與維修方法,實(shí)踐性很強(qiáng)。
本書以基本原理、測(cè)量方法和實(shí)際應(yīng)用為主線,全面系統(tǒng)地介紹核輻射場(chǎng)和放射性勘查內(nèi)容。全書二篇,共計(jì)十一章。第一篇基礎(chǔ)篇,分別介紹放射性及其衰變規(guī)律,射線與物質(zhì)的相互作用,天然放射性核素的分布與遷移,放射性探測(cè)器及測(cè)量?jī)x器。第二篇應(yīng)用篇,分別介紹y射線測(cè)量方法與礦產(chǎn)勘查,氡測(cè)量方法與礦產(chǎn)勘查,尋找油氣藏的放射性方法,自然災(zāi)
《核輻射數(shù)字測(cè)量技術(shù)》首先介紹了核輻射信號(hào)中包含的核信息、核輻射測(cè)量系統(tǒng)的發(fā)展歷史與現(xiàn)狀等基礎(chǔ)知識(shí);然后重點(diǎn)介紹了核輻射數(shù)字化測(cè)量原理及系統(tǒng)結(jié)構(gòu)、核輻射脈沖數(shù)據(jù)的采集、脈沖數(shù)據(jù)的預(yù)處理、核輻射測(cè)量與分析的實(shí)現(xiàn)及數(shù)字測(cè)量應(yīng)用;后對(duì)核輻射數(shù)字測(cè)量技術(shù)的前景進(jìn)行了展望!逗溯椛鋽(shù)字測(cè)量技術(shù)》可作為核輻射測(cè)量相關(guān)專業(yè)的研究生教
本書結(jié)合作者近幾年的研究成果,主要內(nèi)容包括:核輻射監(jiān)測(cè)和成像,具體為國(guó)內(nèi)首創(chuàng)的基于智能手機(jī)和監(jiān)控?cái)z像頭CMOS傳感器的核輻射測(cè)量、高靈敏度的能譜儀、具有定位和成像的探測(cè)器和設(shè)備,可應(yīng)用于材料放射性檢測(cè)、無(wú)損檢測(cè)成像;在核醫(yī)學(xué)上的應(yīng)用,包括正電子發(fā)射斷層成像PET設(shè)備和單光子發(fā)射斷層成像設(shè)備SPECT,以及對(duì)應(yīng)的高性能探
《輻射探測(cè)與防護(hù)實(shí)驗(yàn)》根據(jù)四川大學(xué)核專業(yè)多年實(shí)驗(yàn)教學(xué)經(jīng)驗(yàn),選編了22個(gè)實(shí)驗(yàn)項(xiàng)目,從科普實(shí)驗(yàn)、認(rèn)知實(shí)驗(yàn)到基礎(chǔ)實(shí)驗(yàn),由淺入深分為四個(gè)部分,內(nèi)容包括:放射性測(cè)量中的統(tǒng)計(jì)學(xué),射線與物質(zhì)相互作用,探測(cè)器工作原理及使用方法,活度、能量、時(shí)間、劑量測(cè)量技術(shù),輻射屏蔽防護(hù),環(huán)境輻射監(jiān)測(cè)等.附錄列出了四川大學(xué)核工程與核技術(shù)實(shí)驗(yàn)室開(kāi)設(shè)課程
21世紀(jì)雖被預(yù)言是光子時(shí)代,但電子至今依然是人類認(rèn)識(shí)自然界的主流媒介工具。本書以電子運(yùn)動(dòng)時(shí)間(包括產(chǎn)生時(shí)間、飛行時(shí)間及復(fù)合時(shí)間等)為總綱,討論基于脈沖電子束時(shí)問(wèn)一空問(wèn)調(diào)控的相關(guān)應(yīng)用技術(shù);陲w行時(shí)間電子能譜探測(cè)技術(shù)基礎(chǔ),本書首先介紹均勻磁場(chǎng)聚焦型飛行時(shí)間電子能譜探測(cè)技術(shù)和磁瓶型飛行時(shí)問(wèn)電子能譜探測(cè)技術(shù)。其次以時(shí)問(wèn)分辨率
本書主要分為18章內(nèi)容:粒子、輻射與物質(zhì)的相互作用、探測(cè)器的本質(zhì)性質(zhì)、輻射測(cè)量單位和輻射源、加速器、用于粒子探測(cè)的主要物理現(xiàn)象和基本的計(jì)數(shù)器類型、歷史上的徑跡探測(cè)器、徑跡探測(cè)器、量能器、粒子鑒別、中微子探測(cè)器、動(dòng)量測(cè)量和μ子探測(cè)、老化和輻照效應(yīng)、通用探測(cè)器實(shí)例:Belle、電子學(xué)、數(shù)據(jù)分析、粒子探測(cè)器在粒子物理以外的應(yīng)
本書主要介紹微觀粒子和輻射與物質(zhì)相互作用的物理機(jī)制;粒子和輻射的探測(cè)原理;主要類型粒子探測(cè)器的工作原理、構(gòu)造、性能和應(yīng)用;并在附錄中介紹了輻射和輻射防護(hù)的基本知識(shí)及常用放射性核素的特性。